LCOS-SLMに関する特性

位相変調特性

LCOS-SLMの出力が強度変調として得られる図のようなクロスニコル光学系において、8ビット256階調の画素値に対応した強度変化を測定します。LCOS-SLMにおいて液晶分子の配向方向は水平となるように構成されており、レーザ光の偏光方向が液晶分子に対して45度となるように偏光子を設定し、検光子はクロスニコル配置となるように135度に設定します。アパーチャサイズはφ10 mmに設定します。次のような式を用いて出力光量(I)から位相値(φ)を算出することができます。

I = (Imax - Imin) sin2(φ/2) + Imin

Imax : 最大光量

Imin : 最小光量

位相変調特性の測定系(クロスニコル光学系)

位相変調特性の代表例

一例として、X15213-03Bの出力光強度の測定結果と位相変調量の算出結果を図に示します。

LCOS-SLMの位相変調量は、波長によって異なります。当社では、最大位相変調量が2.28π radとなるように調整しているため、位相解像度は0.009π/digitとなります。

位相変調特性 (X15213-03B, 代表例)

製品の購入やさらに詳しい情報についてはお問い合わせください。

  • 資料請求
  • 価格
  • 納期
  • カスタマイズ
  • デモ依頼
  • サポート
  • その他

お問い合わせ

お問い合わせ内容によっては、回答にお時間をいただく場合やお答えできない場合がございますので、あらかじめご了承ください。